一种新型芯片检测用探针卡的制作方法

1.本实用新型涉及探针卡技术领域，尤其是涉及一种新型芯片检测用探针卡。


背景技术：

2.芯片在进行封装前，一般需要通过探针卡进行检测。探针卡是一种测试接口，通过传输信号对裸芯进行测试。而探针卡在进行测试时，探针会逐渐发生损耗甚至断裂，因此需要及时对探针进行更换，而目前探针经常是采用焊接的方式进行固定，更换极为困难。


技术实现要素：

3.为了解决上述问题，本实用新型提供一种新型芯片检测用探针卡，可以实现探针的快速更换，且无需焊接，也有利于延长探针卡的使用寿命。
4.本实用新型为了实现上述目的具体采用以下技术方案：
5.一种新型芯片检测用探针卡，包括pcb板、设置于pcb板上的金属触点及若干与金属触点抵接的探针，所述pcb板上均布有若干连接孔，所述金属触点位于连接孔内，所述探针包括连接头与针体，所述连接头卡入连接孔内，所述pcb板上可拆卸设置有定位板，所述定位板上开设有供针体穿出的通槽。
6.更进一步地，所述连接孔呈环形均布于pcb板上，所述针体远离连接头一端朝着连接孔围成的环形的中心延伸，所述通槽靠近连接孔围成的环形的中心方向一端开口设置。
7.更进一步地，所述连接孔内设置有沿竖直方向延伸的凸块，所述连接头上设置有与凸块适配的凹槽。
8.更进一步地，所述凸块位于连接孔靠近通槽的开口侧。
9.更进一步地，所述定位板上设置有若干第一螺纹孔，所述pcb板上设置有与第一螺纹孔适配的第二螺纹孔。
10.更进一步地，所述pcb板上设置有环形支撑板，所述环形支撑板上均布有若干供针体卡入的支撑槽。
11.更进一步地，所述定位板与环形支撑板均为绝缘材料制成。
12.本实用新型的有益效果如下：
13.本实用新型提供的新型芯片检测用探针卡，通过定位板对探针进行固定，在探针损坏需要更换时，直接拆下定位板即可快速对相应探针进行更换，而无需进行焊接，使得探针更换更为快捷方便，同时也能更好地保护探针，避免探针在焊接的过程中受损，延长探针的使用寿命。
附图说明
14.图1是探针卡立体结构示意图；
15.图2是探针卡优化结构示意图；
16.图3是定位板结构示意图；
17.图4探针与pcb板连接结构示意图；
18.图5是连接孔结构示意图；
19.图6是连接孔优化结构示意图；
20.附图标记：1-pcb板，2-探针，201-连接头，202-针体，3-定位板，4-通槽，5-环形支撑板，6-连接孔，7-金属触点，8-凸块。
具体实施方式
21.在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连通”应做广义理解，例如，可以是固定连通，也可以是可拆卸连通，或一体地连通；可以是机械连通，也可以是电连通；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
22.实施例
23.本实施例提供一种新型芯片检测用探针卡，请参见图1、图3、图4、图5所示，包括pcb板1、设置于pcb板1上的金属触点7及若干与金属触点7抵接的探针2，当然，与现有的探针卡一样，pcb板1内是设置有识别芯片的，以实现探针卡的检测功能。不同之处在于，所述pcb板1上均布有若干连接孔6，所述金属触点7位于连接孔6内，所述探针2包括连接头201与针体202，针体202远离连接头201一端与待测芯片接触，对待测芯片进行检测，所述连接头201卡入连接孔6内，所述pcb板1上可拆卸设置有定位板3，所述定位板3上开设有供针体202穿出的通槽4，当然，连接头201的横截面尺寸是大于针体202的横截面尺寸的，通过定位板3对连接头201的位置进行限制，从而有效对针体202进行固定，防止探针2与连接孔6脱离，即保证探针2的稳定性。其中，识别芯片与金属触点7电性连接，当然在没有外力损伤的情况下，探针2一般是使用一定次数后就需要进行更换，因此也可以在pcb板1内设置计数单元，计数单元与金属触点7电连接，以在探针2达到一定的使用次数后，及时更换新的探针2，以免影响探针卡检测的准确性。
24.在一种可能的实施方式中，所述连接孔6呈环形均布于pcb板1上，所述针体202远离连接头201一端朝着连接孔6围成的环形(例如圆形)的中心延伸，所述通槽4靠近连接孔6围成的环形的中心方向一端开口设置，在对探针2进行更换时，通槽4一端开口，在连接头201放入连接孔6内后，直接盖下定位板3即可，有效提升了探针2的更换效率，同时，也能避免探针2与通槽4碰撞，对探针2起到较好的保护作用。
25.在一种可能的实施方式中，请参见图6所示，所述连接孔6内设置有沿竖直方向延伸的凸块8，所述连接头201上设置有与凸块8适配的凹槽，利用凸块8及凹槽对连接头201的位置进行限制，避免针体202在检测过程中转动，与待测芯片脱离接触，提升检测的效果。当然凹槽若为通槽4，凸块8则最好位于连接孔6靠近通槽4的开口侧，使得连接头201能更多地与定位板3接触，提升连接头201固定的稳定性。另外，凹槽若顶部不贯通连接头201，则可以使凸块8为2块甚至更多块，在对连接头201进行限位的同时，也能对连接头201进行支撑，使得连接头201在于金属触点7抵接的同时，也不会对金属触点7进行大力挤压。
26.作为定位板3的一种固定方式，所述定位板3上设置有若干第一螺纹孔，所述pcb板1上设置有与第一螺纹孔适配的第二螺纹孔，当然第一螺纹孔可以分布在连接孔6外围，通
过将螺栓拧入第一螺纹孔与第二螺纹孔而将定位板3固定在pcb板1上，使得定位板3的拆卸与安装都极为方便，而第一螺纹孔的数量，可以根据需求进行设置，例如2个、3个、4个等，只要能对定位板3进行稳妥固定即可。
27.进一步地，请参见图2所示，所述pcb板1上设置有环形支撑板5，所述环形支撑板5上均布有若干供针体202卡入的支撑槽，支撑槽的形状与针体202的外形适配，以供针体202卡入，在对针体202进行定位的同时，对针体202进行有效支撑，当然针体202可以分为竖直段、倾斜段与连接段，竖直段与连接头201连接，倾斜段位于竖直段与连接段之间，且倾斜段逐渐往远离pcb板1的方向倾斜，并与支撑槽抵靠，而这样设置的倾斜段也使针体202与pcb板1之间留出一定距离，连接段则与待测芯片接触。另外，定位板3与环形支撑板5一般最好为绝缘材料制成，以免影响探针卡的正常工作。
28.以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，本实用新型的专利保护范围以权利要求书为准，凡是运用本实用新型的说明书及附图内容所作的等同结构变化，同理均应包含在本实用新型的保护范围内。


技术特征：
1.一种新型芯片检测用探针卡，包括pcb板(1)、设置于pcb板(1)上的金属触点(7)及若干与金属触点(7)抵接的探针(2)，其特征在于，所述pcb板(1)上均布有若干连接孔(6)，所述金属触点(7)位于连接孔(6)内，所述探针(2)包括连接头(201)与针体(202)，所述连接头(201)卡入连接孔(6)内，所述pcb板(1)上可拆卸设置有定位板(3)，所述定位板(3)上开设有供针体(202)穿出的通槽(4)。2.根据权利要求1所述的新型芯片检测用探针卡，其特征在于，所述连接孔(6)呈环形均布于pcb板(1)上，所述针体(202)远离连接头(201)一端朝着连接孔(6)围成的环形的中心延伸，所述通槽(4)靠近连接孔(6)围成的环形的中心方向一端开口设置。3.根据权利要求2所述的新型芯片检测用探针卡，其特征在于，所述连接孔(6)内设置有沿竖直方向延伸的凸块(8)，所述连接头(201)上设置有与凸块(8)适配的凹槽。4.根据权利要求3所述的新型芯片检测用探针卡，其特征在于，所述凸块(8)位于连接孔(6)靠近通槽(4)的开口侧。5.根据权利要求4所述的新型芯片检测用探针卡，其特征在于，所述定位板(3)上设置有若干第一螺纹孔，所述pcb板(1)上设置有与第一螺纹孔适配的第二螺纹孔。6.根据权利要求4所述的新型芯片检测用探针卡，其特征在于，所述pcb板(1)上设置有环形支撑板(5)，所述环形支撑板(5)上均布有若干供针体(202)卡入的支撑槽。7.根据权利要求6所述的新型芯片检测用探针卡，其特征在于，所述定位板(3)与环形支撑板(5)均为绝缘材料制成。

技术总结
本实用新型公开了一种新型芯片检测用探针卡，包括PCB板、设置于PCB板上的金属触点及若干与金属触点抵接的探针，所述PCB板上均布有若干连接孔，所述金属触点位于连接孔内，所述探针包括连接头与针体，所述连接头卡入连接孔内，所述PCB板上可拆卸设置有定位板，所述定位板上开设有供针体穿出的通槽。本实用新型提供的新型芯片检测用探针卡，可以实现探针的快速更换，且无需焊接，也有利于延长探针卡的使用寿命。用寿命。用寿命。


技术研发人员：张敏 朱旭旦
受保护的技术使用者：盛华微纳科技（苏州）有限公司
技术研发日：2021.12.07
技术公布日：2022/5/17