一种服务器硬盘热老化测试装置的制作方法

本发明属于服务器测试技术领域，具体涉及一种服务器硬盘热老化测试装置。

背景技术：

随着科技的不断发展，服务器的性能需求逐步提高，随之而来的是，服务器由于高速运转产生更多的热量造成的热老化问题，尤其是硬盘的热老化，会直接影响服务器读写速度，故在服务器测试方便，硬盘的热老化测试尤为重要、

在服务器热老化测试的时候，无论是对内存还是对硬盘的测试，通常都会将整个服务器放进高温老化室或者高温老化柜，对服务器整体进行热老化测试。而当前阶段对于硬盘，无论是hdds、ssds或者是各种各样的nvmes硬盘的老化测试均是将整个服务器放入老化室，进行硬盘的老化测试。

这样测试成本会非常的高，除去建造高温老化室的费用，在单独测试某个部件的时候，其他部件在高温下也会加速老化，产生额外的器件损坏成本；在移动服务器到老化室和从老化室搬离服务器的过程中，也会带来人力和时间的不必要浪费。

技术实现要素：

针对现有技术的上述不足，本发明提供一种服务器硬盘热老化测试装置，以解决上述技术问题。

本发明提供一种服务器硬盘热老化测试装置，包括：硬盘套壳和总处理盒，所述硬盘套壳与总处理盒连接；所述硬盘套壳包括上、下壁，以及围绕上、下壁形成的侧壁，所述侧壁的某一对应两端设置为开口，所述上、下两壁上分别设置有螺丝孔，所述螺丝孔的数量与位置和所测硬盘螺丝的数量与位置对应；所述硬盘套壳包括：外层、中层和内层，所述外层设置有绝缘隔热片；所述中层设置有电热片；所述内层设置有温度传感器；所述电热片和温度传感器与总处理盒连接。

进一步的，所述硬盘套壳的数量小于等于32个，每个所述硬盘套壳与总处理盒的连接线路上均设置有控制开关，本发明提供的硬盘套壳可同时对多个硬盘进行加热，通过所述控制开关可以控制具体的加热数量。

进一步的，所述总处理盒内设置有控制单元、数据采集单元、数据处理单元和供电单元，所述供电单元为整个装置供电；所述数据采集单元与所述温度传感器连接，所述数据处理单元与所述数据采集单元连接，所述数据处理单元与所述控制单元连接，所述控制单元与所述电热片连接，所述总处理盒用于监控温度并自动对电热片的加热温度进行细微调整。

进一步的，所述总处理盒设置有显示屏，所述显示屏与所述控制单元连接，所述显示屏用于显示装置的具体工作过程，方便工作人员查看。

进一步的，所述装置为每个硬盘套壳设置工位，所述工位之间保持一定的距离，便于所测硬盘之间产生相互影响。

进一步的，所述总处理盒还包括报警模块，所述报警模块与所述控制单元连接，当装置出现故障或加热温度超出硬盘承受阈值时，便于及时发出警报。

进一步的，所述装置还包括上位机，所述上位机与控制单元连接，所述上位机设置有加热温度输入模块、加热时间输入模块和报警温度输入模块，所述上位机用于工作人员提前设定硬盘的测试温度、加热时间和温度承受阈值。

本发明的有益效果在于，

本发明提供的一种服务器硬盘热老化测试装置，通过进行模拟热老化的测试过程中，对硬盘进行预加热，具体采用的是在所测硬盘外设置套壳，所述套壳包裹硬盘，对硬盘进行均匀加热，采用这种单部件的测试方式，提高了热老化测试的精准度；本发明提供的硬盘套壳可同时对多个硬盘进行加热，大幅度提高了测试的效率；本发明还提供了硬盘套壳工位、显示屏、报警模块和上位机等，提高了测试的安全性和准确性。

此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请的硬盘套壳的外形示意图；

图2是本申请所测硬盘的外形示意图；

图3是本申请硬盘套壳的外中内三层的结构示意图；

图4是本申请一个实施例的装置的结构示意图；

图5是本申请一个实施例的装置的模块结构示意图；

图6是本申请一个实施例的装置的模块结构示意图；

其中，1、硬盘套壳；2、总处理盒；3、上、下壁；4、侧壁；5、开口；6、螺丝孔；7、所测硬盘螺丝；8、绝缘隔热片；9、电热片；10、温度传感器；11、控制开关；12、控制单元；13、数据采集单元；14、数据处理单元；15、供电单元；16、显示屏；17、报警模块；18、上位机；19、加热温度输入模块；20、加热时间输入模块；21、报警温度输入模块。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

实施例1

如图1所示，本申请实施例提供一种服务器硬盘热老化测试装置，包括：硬盘套壳1和总处理盒2，所述硬盘套壳1与总处理盒2连接；所述硬盘套壳1包括上、下壁3，以及围绕上、下壁3形成的侧壁4，所述侧壁的某一对应两端设置为开口5，如图2所示，所述上、下两壁3上分别设置有螺丝孔6，所述螺丝孔6的数量与位置和所测硬盘螺丝7的数量与位置对应；如图3所示，所述硬盘套壳1包括：外层、中层和内层，所述外层设置有绝缘隔热片8；所述中层设置有电热片9；所述内层设置有温度传感器10；所述电热片9和温度传感器10与总处理盒2连接；如图4所示，所述硬盘套壳1的数量为32个，每个所述硬盘套壳1与总处理盒2的连接线路上均设置有控制开关11；所述总处理盒2内设置有控制单元12、数据采集单元13、数据处理单元14和供电单元15，所述供电单元15为整个装置供电；所述数据采集单元13与所述温度传感器10连接，所述数据处理单元14与所述数据采集单元13连接，所述数据处理单元13与所述控制单元12连接，所述控制单元12与所述电热片9连接；所述总处理盒2设置有显示屏16，所述显示屏16与所述控制单元12连接；所述装置为每个硬盘套壳设置工位，所述工位之间保持一定的距离。

将所测硬盘插入硬盘套壳1内，所测硬盘通过螺丝固定在硬盘套壳1上。上电后，所述数据采集单元13通过温度传感器10采集所测硬盘的温度，并将温度信号发送到数据处理单元14进行处理，然后发送到控制单元12，控制单元12根据测试需求开启电热片9，利用电热片9模拟所测硬盘实际运行过程中负荷高峰时的温度，进行热老化试验，热老化试验的过程的各项数据均通过显示屏16展示给工作人员。进行热老化一段时间后，取出所测硬盘进行各项性能参数的测定，参数的变化最终所测硬盘的热老化。

实施例2

如图5所示，本申请实施例提供一种服务器硬盘热老化测试装置，本实施例与所述实施例1不同之处在于，所述总处理盒2还包括报警模块17，所述报警模块17与所述控制单元12连接。

预设加热温度的硬盘承受阈值，在加热过程中，当装置加热温度超出硬盘承受阈值时，控制单元12发送信号到报警模块17，便于及时发出警报，提醒工作人员停止加热。在加热过程中，当装置出现故障时，例如数据采集单元13无法获取温度，报警模块17及时发出警报，提醒工作人员进行故障排查和维护。

实施例3

如图6所示，本申请实施例提供一种服务器硬盘热老化测试装置，本实施例在实施例2的基础上增设了上位机18，所述上位机18与控制单元12连接，所述上位机18设置有加热温度输入模块19、加热时间输入模块20、报警温度输入模块21。

本实施例可根据所测硬盘自身规格的不同，模拟不同强度的热老化，同时加入加热时间，使得整个热老化试验能够在一定时间范围内对所测硬盘加热，进一步研究热老化时间和温度对于硬盘性能的影响；报警模块17的硬盘承受阈值也可以通过报警温度输入模块21进行调整，进一步增加了装置使用的安全性。

尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。