使用互补开关的存储器内电阻式随机存取存储器xor逻辑.本发明总体上涉及非易失性存储器的领域，并且更具体地涉及提供在电阻式随机存取存储器(rram)中使用单个器件的xor门。.在rram器件中，存储器单元可被编程为两种状态之一：设置状态或重置状态。在设置状态下，存储器单元具有“低”电阻。在重...

.本公开涉及控制向进行电一次性写入的存储元件的通过电流的半导体装置以及控制电路。.近年来，在ram(randomaccessmemory，随机存取存储器)电路等中，有时在用于救济不良比特的冗余处理、用于识别各芯片的识别码等中使用电熔丝元件。电熔丝元件是进行电一次性写入的存储元件(以下，...

.本发明涉及硬盘，特别是涉及内置静电释放片的移动硬盘及防止静电积聚的方法。.随着电子技术的迅速发展，移动类电子设备目前已普及应用，由于工作的原因，移动硬盘越来越普及到我们的生活中，很多人使用它来存储文件或照片等，携带十分方便，如何解决移动硬盘上数据泄密问题将越来越受重视。另外，信息...

.本发明涉及半导体测试，尤其是涉及一种存储器故障测试方法。.随着存储器的容量越来越大，集成度越来越高，使得存储器内部的晶体管越来越密集，以及器件参数的微小浮动和特性的一些变化等情况下，导致存储器中出现的干扰故障问题日益突出。.目前主要的存储器算法测试主要是marchc算法，它拥有较...

一种emmc芯片的异常规避方法、装置、电子设备及存储介质.本申请涉及emmc芯片，具体涉及一种emmc芯片的异常规避方法、装置、电子设备及存储介质。.emmc(embeddedmultimediacard，嵌入式多媒体控制器)是mmc协会订立、主要针对手机或平板电脑等...

.本发明涉及一种存储器件，且更具体来说，涉及一种具有高单元密度及低漏电流的存储器件以及使用其的编程方法。.例如或非(nor)闪速存储器及与非(nand)闪速存储器的闪速存储器在许多应用中被广泛用于存储数据。执行编程操作以通过耦合到要被编程的存储单元的字线、位线及源极线将数据写入到存储单元。...

存储器装置.本申请要求于年月日在韩国知识产权局提交的第--号韩国专利申请的优先权，所述韩国专利申请的公开通过引用全部包含于此。.发明构思的实施例涉及存储器装置。.根据用户的高性能需求，各种电子系统中使用的半导体存储器装置的容量和速度正在迅速增加。特别地，易失性存储器装置的典型示例可...

.本公开实施例涉及半导体，提供一种单端感测放大器以及存储器。.存储器装置中的各种操作模式可导致存储器装置上的存储单元的存取。在此类操作期间，感测放大器可感测存储单元的电压并输出对应于感测电压的逻辑或。当存取时，存储单元可耦接到数字线（例如位线），而数字线又可耦接到感测放大器。与耦接...

基于n型和p型铁电场效应晶体管实现通用内容可寻址存储器的方法.本发明涉及新型存储与计算，具体涉及一种基于n型和p型铁电场效应晶体管的通用内容可寻址存储器设计。.内容可寻址存储器(cam)可以高效且并行地执行搜索操作，被广泛应用在路由器、数据库搜索、存内计算以及神经形态计算等...

.本发明实施例涉及但不限于半导体老化测试，特别是涉及一种测试用温箱及其测试方法。.半导体存储芯片测试板用于对半导体存储芯片进行老化测试，它通常由一个pcb(printedcircuitboard)板和与之连接的一组半导体存储芯片组成。这些半导体存储芯片可以根据需要定制和配置，以...

一种rom输出控制电路及方法.本发明涉及集成电路领域，特别是涉及一种rom输出控制电路及方法。.rom只读存储器能够稳定存储数据，其结构较简单且使用方便，常被用于存储各种固定程序和数据。技术人员通常会在rom里面固化一些程序，完成对系统的加电自检、系统中各功能模块的初始化、系统的基...

.本申请涉及存储芯片测试，尤其涉及一种存储芯片测试装置。.为了加快存储芯片的可靠性测试，通常使用老化测试装置将待测存储芯片置于某一固定温度的环境下，以加速产品产生故障的时间，从而能够在较短时间完成待测存储芯片的性能测试。.现有的老化测试装置采用bib(burn-inboard)老...

一种适用于pim系统的读写电压自动标定方法及系统.本发明涉及pim系统，具体涉及一种适用于pim系统的读写电压自动标定方法及系统。.pim（processinmemory）也叫做存内计算（computinginmemory），是指存储器中的数据不经取出，直接在存储器...

.本发明的实施例总体涉及电子电路领域，更具体地，涉及用于字线延迟联锁电路的器件、系统和生成时钟脉宽信号的方法。.静态随机存取存储器(sram)器件被广泛用于需要高速和低功耗的电子应用中。sram器件通常由一个或多个使用晶体管实现的sram单元组成。发明内容.本发明的一个方面提供了一种用于字...

非易失性存储设备及其操作方法.对相关申请的交叉引用.本申请要求于年月日向韩国知识产权局提交的第--号韩国专利申请的优先权，其公开内容通过引用的方式整体并入本文。.本文所描述的本公开的实施例涉及一种非易失性存储设备，并且更具体地，涉及一种用于在表面贴装技术(smt)处理之前和之后执行不同编程...

非易失性存储器装置.相关申请的交叉引用.本申请要求在韩国知识产权局于年月日提交的韩国专利申请no.--和于年月日提交的韩国专利申请no.--的优先权的利益，以上申请的公开内容以引用方式全文并入本文中。.本公开涉及一种存储器装置，并且更具体地，涉及一种其中存储器单元阵列与外围电路的部分区重叠...

norflash的复位方法、装置、存储芯片及设备.本申请涉及存储芯片，具体而言，涉及一种norflash的复位方法、装置、存储芯片及设备。.在大部分的norflash芯片中，数字电路在某些情况下不能接受正确的指令或者不允许接受新指令，需要通过某种特殊的信号发送方式进行...

.本申请涉及信号处理，更具体的说，是涉及一种信号测试方法、存储器的初始化方法及电子设备。.电子设备中的内存模组正常工作前需要控制器端进行cbt(commandbustraining，指挥总线训练)。cbt相关的信号包括ck(clock，时钟)信号、芯片选择(chipselect，...

.本发明涉及一种减少闪存擦除时长的方法，属于存储器。.随着便携式电子产品市场的高速发展，快闪芯片被广泛应用于手机数码相机硬盘和超级笔记本等设备的代码和程序存储。随着尺寸的减小，为了减少系统功耗，要降低对cpu的占有时间，减少系统开销，需要尽量缩短编程和擦除时间。.但是，随着擦写次数...

.本公开涉及半导体，尤其涉及一种调修控制方法、装置、设备及介质。.在半导体技术中，为了提高芯片良率，往往需要对芯片内部电压进行电压调修。.然而，现有的电压调修方案，往往调修精度较低。因此，如何提高芯片内部电压调修精度成为了亟待解决的问题。.需要说明的是，在上述部分公开的信息...