阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法与流程

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法。

背景技术：

显示面板的制备需经过阵列(array)工艺、成盒(cell)工艺和模组(moduel)工艺。其中，array工艺一般包括栅线和数据线的制备、薄膜晶体管的制备、像素电极的制备等。显示面板包括多行栅线和多列数据线，多行栅线和多列数据线限定出多个像素。

在array工艺中，由于工艺缺陷、操作失误及工艺精度等原因，数据线可能会出现不良，现有检测数据线不良的方法主要是：利用array检测设备向所有的数据线输入数据信号，将所有的像素点亮；根据像素点亮、暗点以确定是否存在数据线不良。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：如图1所示，异常产品在制程过程中可能出现图1所示的似连似断的异常连接，这种虚接状态在检测过程中可以使得像素点亮，但是在后期则会出现不良，即现有的检测方式中一些似连似断等异常连接不易被发现，此类产品往往不能有效在制程阶段有效拦截，给产品品质造成影响。

技术实现要素：

本发明针对现有的检测方式中数据线似连似断等异常连接不易被检出的问题，提供一种阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是：

一种阵列基板，包括：多条栅线、多条数据线、所述栅线与所述数据线交叉定义的像素单元，所述阵列基板还包括与多条数据线连接的数据信号输入总线，以及与多个像素单元连接的用于提供检测信号的检测线，其中，所述检测信号的极性与所述数据信号的极性相反。

优选的是，所述检测线设于像素单元远离所述数据信号输入总线的一侧。

优选的是，所述数据信号输入总线与多条数据线之间设有第一开关组，用于控制数据信号输入总线与多条数据线之间的通断。

优选的是，所述数据信号输入总线包括用于向奇数列数据线提供数据信号的第一引线和用于向偶数列数据线提供数据信号的第二引线，所述第一引线与第二引线的数据信号不同。

优选的是，所述第一开关组包括第三开关和第四开关，所述第三开关设于第一引线与奇数列数据线之间，用于控制第一引线与奇数列数据线之间的通断；所述第四开关设于第二引线与偶数列数据线之间设有，用于控制第二引线与偶数列数据线之间的通断。

优选的是，所述检测线与像素单元之间设有第二开关组，用于控制检测线与像素单元之间的通断。

优选的是，所述检测线包括第一检测线和第二检测线，所述第一检测线提供的检测信号与对应的第一引线提供的数据信号的极性相反；所述第二检测线提供的检测信号与对应的第二引线提供的数据信号的极性相反。

优选的是，所述第二开关组包括第五开关和第六开关；所述第五开关设于第一检测线与对应的像素单元之间，用于控制第一检测线与对应的像素单元之间的通断；所述第六开关设于第二检测线与对应的像素单元之间，用于控制第二检测线与对应的像素单元之间的通断；

其中，所述第五开关与第三开关同时导通或关断，所述第六开关与第四开关同时导通或关断。

本发明还提供一种数据线不良的检测方法，包括以下步骤：

向数据线提供数据信号同时向检测线提供检测信号；其中所述检测信号的极性与所述数据信号的极性相反；

检测与数据线连接的像素单元是否被点亮，并判断该像素单元是否存在不良。

本发明还提供一种数据线不良的检测装置，包括：

数据信号提供单元，用于向数据线提供数据信号；

检测信号提供单元，用于向检测线提供检测信号；

亮度检测单元，用于在检测信号提供单元提供检测信号时，检测与数据线连接的像素单元是否被点亮，并判断该像素单元是否存在不良；

其中，所述检测信号的极性与所述数据信号的极性相反。

本发明还提供一种显示装置，包括上述阵列基板。

本发明的阵列基板中数据信号输入总线向各个像素单元提供数据信号，该阵列基板在数据信号输入总线相对的另一侧增加了检测线，这样在检测产品时，数据信号输入总线输入正常的数据信号，另一侧的检测线输入与数据信号相反极性的信号，那么在数据线虚接的位置处会出现发热情况，并将虚接的位置处烧毁，因此其可以实现快速检测全部数据线，准确将虚接数据线检出。本发明的显示装置包括上述阵列基板，数据线不良的检测装置和检测方法适用于检测上述的阵列基板，检测过程简单，方便快捷。

附图说明

图1为现有的异常产品在制程过程中数据线虚接示意图；

图2为本发明的实施例1的阵列基板的结构示意图；

图3为本发明的实施例2的阵列基板的结构示意图；

图4为本发明的实施例3的数据线不良的检测装置结构示意图；

图5为本发明的实施例4的数据线不良的检测方法流程图；

其中，附图标记为：1、像素单元；11、奇数列像素单元；12、偶数列像素单元；2、数据信号提供单元；3、检测信号提供单元；41、第一开关组；42、第二开关组。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。

实施例1：

本实施例提供一种阵列基板，如图2所示，包括：多条栅线gate、多条数据线、所述栅线gate与所述数据线(图中未标示)交叉定义的像素单元1，所述阵列基板还包括与多条数据线连接的数据信号输入总线ctd，以及与多个像素单元1连接的用于提供检测信号的检测线ctd-j，其中，所述检测信号的极性与所述数据信号的极性相反。

本实施例的阵列基板中数据信号输入总线ctd向各个像素单元1提供数据信号，相较于现有技术，该阵列基板在数据信号输入总线ctd相对的另一侧增加了检测线ctd-j，这样在检测产品时，数据信号输入总线ctd输入正常的数据信号(也称点灯信号)，另一侧的检测线ctd-j输入与数据信号相反极性的信号，那么在数据线虚接的位置处会出现发热情况，并将虚接的位置处烧毁，因此其可以实现快速检测全部数据线，准确将虚接数据线检出。

实施例2：

本实施例提供一种阵列基板，如图3所示，包括：多条栅线gate、多条数据线、所述栅线gate与所述数据线交叉定义的像素单元1，所述阵列基板还包括分别与多条数据线连接的两条数据信号输入总线ctd-evev、ctd-odd，以及与多个像素单元1连接的用于提供检测信号的检测线ctd-evev-j、ctd-odd-j，其中，所述检测线ctd-evev-j中的检测信号的极性与数据信号输入总线ctd-evev中的数据信号的极性相反；检测线ctd-odd-j中的检测信号的极性与数据信号输入总线ctd-odd中的数据信号的极性相反。

在实施例对应的附图3中，显示了数据信号输入总线包括两条，分别为ctd-evev、ctd-odd，即ctd-evev和ctd-odd分别向不同的像素单元1提供不同的数据电压。与之分别对应的设置了两条检测线，并且检测线的检测信号的极性与相对应的数据信号输入总线的数据信号极性相反。例如，若ctd-odd中的数据电压为1v，那么与其对应的ctd-odd-j的检测电压为-1v。

其中，在阵列基板的对应显示面板的边框区保留两条数据信号输入总线作为数据线和驱动电路之间的连接线；奇数列数据线与一条数据信号输入总线连接，偶数列数据线与另一条数据信号输入总线连接。驱动电路可以通过每条数据信号输入总线单独向奇数列和偶数列数据线输入数据信号。类似的，在阵列基板的对应显示面板的边框区与数据信号输入总线相对的一端设置两条检测线，一条检测线通过与奇数列数据线连接向奇数列像素单元提供检测信号，另一条检测线通过与偶数列数据线连接向偶数列像素单元提供检测信号。

作为本实施例中的一种优选实施方案，所述数据信号输入总线包括用于向奇数列数据线提供数据信号的第一引线ctd-odd和用于向偶数列数据线提供数据信号的第二引线ctd-evev，所述第一引线ctd-odd与第二引线ctd-evev的数据信号不同。

所述检测线包括第一检测线ctd-odd-j和第二检测线ctd-evev-j，所述第一检测线ctd-odd-j提供的检测信号与对应的第一引线ctd-odd提供的数据信号的极性相反；所述第二检测线ctd-evev-j提供的检测信号与对应的第二引线ctd-evev提供的数据信号的极性相反。

也就是说，ctd-odd向奇数列像素单元11提供数据信号，ctd-evev向偶数列像素单元12提供数据信号，ctd-odd与ctd-evev提供的数据信号可以相同也可以不同，具体的数据信号可以根据实际需要进行改变。同时，ctd-odd-j向奇数列像素单元11提供检测信号，ctd-evev-j向偶数列像素单元12提供检测信号，ctd-odd-j提供的检测信号极性与ctd-odd提供的数据信号极性相反；ctd-evev-j提供的检测信号极性与ctd-evev提供的数据信号极性相反，即保证同一像素单元1内输入的检测信号极性与数据信号极性相反。

作为本实施例中的一种可选实施方案，所述数据信号输入总线与多条数据线之间设有第一开关组41，用于控制数据信号输入总线与多条数据线之间的通断。

具体的，第一开关组41包括第三开关和第四开关，所述第三开关设于第一引线ctd-odd与奇数列数据线之间，用于控制第一引线ctd-odd与奇数列数据线之间的通断；所述第四开关设于第二引线ctd-evev与偶数列数据线之间，用于控制第二引线ctd-evev与偶数列数据线之间的通断。

其中，本实施例中奇数列数据线和偶数列数据线提供不同的数据信号时，第一检测线与第二检测线需要向与之相对应的数据线分别提供不同的检测信号，以确保同一像素单元内输入的检测信号极性与数据信号极性刚好相反。

具体的，在一个实施例中，如图3所示，第三开关为第三晶体管t3，第四开关为第四晶体管t4，其中，第三晶体管t3的控制极连接第一开关信号线ct-sw，第三晶体管t3的第一极连接ctd-odd，第三晶体管t3的第二极连接奇数列像素单元11的数据线。第四晶体管t4的控制极连接第一开关信号线ct-sw，第四晶体管t4的第一极连接ctd-evev，第四晶体管t4的第二极连接偶数列像素单元12的数据线。

作为本实施例中的一种可选实施方案，所述检测线与像素单元1之间设有第二开关组42，用于控制检测线与像素单元1之间的通断。

具体的，第二开关组42包括第五开关和第六开关，所述第一检测线ctd-odd-j与对应的奇数列像素单元11之间设有第五开关，用于控制第一检测线ctd-odd-j与对应的奇数列像素单元11之间的通断；所述第二检测线ctd-evev-j与对应的偶数列像素单元12之间设有第六开关，用于控制第二检测线ctd-evev-j与对应的偶数列像素单元12之间的通断。

在一个实施例中，如图3所示，第五开关为第五晶体管t5，第六开关为第六晶体管t6，其中，第五晶体管t5的控制极连接第二开关信号线ct-sw-j，第五晶体管t5的第一极连接ctd-odd-j，第五晶体管t5的第二极连接奇数列像素单元11的数据线。第六晶体管t6的控制极连接第二开关信号线ct-sw-j，第六晶体管t6的第一极连接ctd-evev-j，第六晶体管t6的第二极连接偶数列像素单元12的数据线。

其中，所述第五开关与第三开关同时导通或关断，所述第六开关与第四开关同时导通或关断。即第五晶体管t5与第三晶体管t3同时打开或关断，第六晶体管t6与第四晶体管t4同时打开或关断。

需要说明的是，附图3中还显示了具体的像素单元1，具体的，像素单元1包括不同颜色的子像素，例如，红、绿、蓝子像素，其中，sw-r为红色子像素的开关信号控制线，sw-g为绿色子像素的开关信号控制线，sw-b为蓝色子像素的开关信号控制线，虚线圈起的像素单元1为蓝色子像素，其连接至sw-b上，二者之间还设有开关，所述开关可以是薄膜晶体管。

优选的是，所述检测线设于像素单元1远离所述数据信号输入总线的一侧。

本实施例对应的附图3中，数据信号输入总线设于阵列基板的上方边缘处，检测线设于阵列基板的下方边缘处，可以理解的是数据信号输入总线设于阵列基板的下方，检测线设于阵列基板的上方也是可行的。

需要说明的是，本实施例中仅以奇数列数据线、偶数列数据线提供两种不同信号的情况进行了说明，可以理解的是，当间隔两列或三列或更多列的情况与本实施例的情况类似，只需相对应的设置检测线即可，其具体连接方式在此不再赘述。

实施例3：

本实施例提供一种数据线不良的检测装置，如图4所示，包括：数据信号提供单元2，检测信号提供单元3和亮度检测单元(图中未示出)。其中，数据信号提供单元2用于向数据线提供数据信号；检测信号提供单元3用于向检测线提供检测信号；亮度检测单元用于在检测信号提供单元提供检测信号时，检测与数据线连接的像素单元1是否被点亮，并判断该像素单元1是否存在不良；且所述检测信号的极性与所述数据信号的极性相反。

本实施例的检测装置用于检测上述实施例的阵列基板，进行检测前，数据信号提供单元与数据信号输入总线连接，检测信号提供单元与检测线连接，检测时，数据信号提供单元和检测信号提供单元同时输入极性相反的信号即可。

具体的，数据线虚接位置处相当于一处电阻，根据焦耳定律：焦耳热q＝i²rt，电阻越大，热量越大，因此，数据信号提供单元进行点灯时，数据线虚接位置处出现断路，有效检出虚接不良，快捷方便。

更具体的，亮度检测单元可以是亮度计，也可以采用人工进行检测，由于本实施例中检测信号的极性与所述数据信号的极性相反，也就是说，若数据线存在虚接，那么就会出现断路，造成数据线虚接位置处不亮，人工检测直观方便。

实施例4：

本实施例提供一种数据线不良的检测方法，包括以下步骤：

s01、向数据线提供数据信号同时向检测线提供检测信号；其中所述检测信号的极性与所述数据信号的极性相反；

s02、检测与数据线连接的像素单元是否被点亮，并判断该像素单元是否存在不良。

显然，上述各实施例的具体实施方式还可进行许多变化；例如：像素单元内的具体连接方式可以根据显示需要进行改变，检测信号提供单元的具体设定可以根据实际情况进行选择。

实施例5：

本实施例提供了一种显示装置，其包括上述任意一种阵列基板。所述显示装置可以为：液晶显示面板、电子纸、oled面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。