1.一种测量装置，其特征在于，包括：用于卡设轴类零件或基准轴的定位架，所述定位架的中心轴线穿过所述轴类零件或基准轴的轴心；
测量组件，其穿设在所述定位架上，所述测量组件包括探杆和与所述探杆连接的测量表，所述探杆的自由端用于抵触在待测表面上，所述测量表用于根据所述探杆的移动显示所述待测表面的尺寸数据；
固定件，其固定在所述定位架上，所述固定件套设在所述探杆的外部，所述探杆能够相对所述固定件沿所述固定件的中心轴线自由移动；
其中，所述测量组件沿所述定位架的中心轴线方向设置，用于测量圆度；或者所述测量组件沿垂直于所述定位架的中心轴线方向设置，用于测量端面跳动。
2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，当所述测量组件沿所述定位架的中心轴线方向设置时，所述固定件包括穿设并固定在所述定位架顶端的套筒，所述套筒的中心轴线与所述定位架的中心轴线相重合。
3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述定位架的顶部开设有穿设所述套筒的通孔，所述套筒的一端与所述测量表的表盘固定连接，另一端穿过所述通孔延伸靠近至所述探杆的端部。
4.根据权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述通孔的侧壁上设置有可将所述套筒固定在所述定位架上的锁紧螺母，所述锁紧螺母的安装方向垂直于所述套筒的延伸方向。
5.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，当所述测量组件沿垂直于所述定位架的中心轴线方向设置时，所述固定件包括穿设并固定在所述定位架顶部的套筒，所述套筒的中心轴线垂直于所述定位架的中心轴线。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述定位架为轴对称结构，包括能够与所述轴类零件或所述基准轴的侧壁相切接触的点、线结构。
7.根据权利要求1-5中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述探杆的所述自由端为半球结构，所述半球结构的最底端与所述待测表面相切接触。
8.根据权利要求1-5中任一项所述的测量装置，其特征在于，所述测量表为机械千分表，或者带自动记录功能的电子千分表。