一种移动终端天线测试方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及天线测试领域，尤其涉及一种移动终端天线测试方法及装置。
【背景技术】
[0002] 移动终端进入4G时代以后，天线性能变得更加重要。好的天线性能可以带给用户 更好的宽带移动互联体验，特别是接收性能好的终端可以提供更快的下载速度。为了提升 天线性能，天线的测试系统是重要的研发平台，作用不可或缺。典型的天线设计链路为设计 天线模式、测试、根据测试结果再次优化、再测试，直到得到最佳性能。在整个链路中，测试 尤其是接收灵敏度测试（Total Isotropic Sensitivity，TIS)非常耗时。典型的TIS测 试，需要对天线转台的theta角度0到180°，30°步长，phi角度0到360° ,30°步长，一 个信道的测试总时长可高达60分钟。因此高效率的天线测试系统可以帮助研发人员在最 短的时间能获得最优的天线性能。
[0003] 进入4G时代后，移动终端的频段和制式比以前增加很多。例如，典型的中国移动 5模12频的终端可以支持，GSM/WCDMA/TD-SCDMA/FDD-LTE/TDD-LTE 5种模式，而频段上，可 以支持B1/2/3/7/5/8/17/34/39/38/40/41频段，覆盖的范围从700MHz到2. 6GHz，调试难 度明显增加，测试的时长显著增长。12个频段，使用标准的CTIA规范的On-The-Air (0TA， 有源测试）测试方法，测试发射Total Radiated Power (TRP，总发射功率）和接收Total Isotropic Sensitivity (TIS，接收灵敏度）的性能，平均需要12*90*3分钟（一个信道TRP 30分钟，TIS 60分钟，一个频段按照CTIA测试方法需要测试高中低3个信道）=3240分 钟即54小时。在调试阶段，需要不停的进行这些测试；在量产验证阶段，需要测试多批次 多台（通常超过5台）样机。而用于进行0TA测试的暗室造价高达上千万元人民币，每小 时测试单价1000-3000元不等。超长的测试时间会造成巨大的测试成本和测试资源压力。
[0004] 因此，现有技术还有待于改进和发展。
【发明内容】
[0005] 鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种移动终端天线测试方法及 装置，旨在解决现有天线测试方法测试时间长、效率低、成本高等问题。
[0006] 本发明的技术方案如下：
[0007] -种移动终端天线测试方法，其中，包括步骤：
[0008] A、将移动终端放置在暗室转台上，并通过暗室通信天线连接上基站仿真器；
[0009] B、暗室转台依次运动到不同的theta角度和phi角度，同时，基站仿真器的发射信 号通过暗室测量天线发送给移动终端，移动终端接收信号并进行解码，然后返回至基站仿 真器，获得暗室测量天线在第一角度步长下水平极化和垂直极化方向的数据；
[0010] C、使用插值计算获得从第一角度转换到第一角度的数据，所述第二角度小于第一 角度，然后对数据进行计算得到接收灵敏度TIS。
[0011] 所述的移动终端天线测试方法，其中，所述步骤C中，插值计算采用二维插值算 法。
[0012] 所述的移动终端天线测试方法，其中，所述步骤C具体包括：
[0013] 将每列数据从45度转换到30度：
[0014]
[0015] 五:为在30度步长下固定theta角度的数据，五为在45度步长下固定 theta角度的数据。
[0016] 所述的移动终端天线测试方法，其中，所述步骤C还包括：
[0017] 将每行数据从45度转换到30度：
[0018]
[0019] 扮5?广为在30度步长下固定phi角度的数据，M5tta为在45度步长下固定phi 角度的数据。
[0020] 所述的移动终端天线测试方法，其中，所述步骤C还包括：
[0021] 基站仿真器对比发送和接收的数据包的每个比特，计算出误比特率，直至误比特 率超出标准门限，此时基站仿真器当前发射功率即为当前测试点的等效灵敏度ElS。
[0022] 所述的移动终端天线测试方法，其中，所述步骤C还包括：
[0023] 在获得每个测试点的等效灵敏度EIS后，将等效灵敏度EIS补偿上暗室的路径损 耗，进行积分计算，获得接收灵敏度TIS。
[0024] 所述的移动终端天线测试方法，其中，所述步骤B还包括：在每一测试点逐步降低 基站仿真器的发射功率，然后发送固定长度及随机内容的数据包，移动终端接收到数据包 后通过一发射通路环回给基站仿真器。
[0025] 一种移动终端天线测试装置，其中，包括：
[0026] 暗室转台，用于放置移动终端，
[0027] 基站仿真器，所述移动终端通过暗室通信天线连接基站仿真器；
[0028] 所述暗室转台依次运动到不同的theta角度和phi角度，同时，基站仿真器的发射 信号通过暗室测量天线发送给移动终端，移动终端接收信号并进行解码，然后返回至基站 仿真器，获得暗室测量天线在第一角度步长下水平极化和垂直极化方向的数据；
[0029] 数据计算模块，用于使用插值计算获得从第一角度转换到第二角度的数据，所述 第二角度小于第一角度；然后对数据进行计算得到接收灵敏度TIS。
[0030] 所述的移动终端天线测试装置，其中，数据计算模块包括：
[0031] 列数据转换单元，用于将每列数据从45度转换到30度：
[0032]
[0033]五.为在30度步长下固定theta角度的数据，为在45度步长下固定 theta角度的数据。
[0034] 所述的移动终端天线测试装置，其中，数据计算模块还包括：
[0035] 行数据转换单元，用于将每行数据从45度转换到30度：
[0036]
[0037] ;为在30度步长下固定phi角度的数据，为在45度步长下固定phi 角度的数据。
[0038] 有益效果：本发明通过对第一角度步长的数据进行插值运算，最终获得较小的第 二角度步长的实际测试结果。本发明可极大的缩短测试时间，而测试结果的误差在可以接 收的范围内，通过本发明的方法提高了天线测试效率，降低了测试成本。
【附图说明】
[0039] 图1为本发明一种移动终端天线测试方法较佳实施例的流程图。
[0040] 图2为本发明的方法具体实施例的数据对比示意图。
[0041] 图3为本发明的方法另一具体实施例的数据对比示意图。
【具体实施方式】
[0042] 本发明提供一种移动终端天线测试方法及装置，为使本发明的目的、技术方案及 效果更加清楚、明确，以下对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例 仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0043]请参阅图1，图1为本发明一种移动终端天线测试方法较佳实施例的流程图，如图 所示，其包括步骤：
[0044] S1、将移动终端放置在暗室转台上，并通过暗室通信天线连接上基站仿真器；
[0045] S2、暗室转台依次运动到不同的theta角度和phi角度，同时，基站仿真器的发射 信号通过暗室测量天线发送给移动终端，移动终端接收信号并进行解码，然后返回至基站 仿真器，获得暗室测量天线在第一角度步长下水平极化和垂直极化方向的数据；
[0046] S3、使用插值计算获得从第一角度转换到第二角度的数据，然后对数据进行计算 得到接收灵敏度TIS。
[0047] 下面对本发明的步骤进行具体说明，另外需要说明的是，本发明是以第一角度为 45度，第二角度为30度进行举例说明。但显然的是，所述第一角度及第二角度并限于此，例 如所述第一角度为45度，第二角度为15度，或者第一角度为30度，第二角度为15度。这 些实例均可实现本发明的提高测试效率、降低测试成本的目的。
[0048] 在所述步骤S2中，暗室转台依次运动到不同的角度时，暗室测量天线的极化方 向（水平和垂直）也会调整，在每个theta/phi角度上，都需要调整两次暗室测量天线极化 位置（水平和垂直极化）。在传统的测试方法中，需要暗室转台theta角度从0度运动到 180度，每30度为1步长，共6步。phi从0度到360度，每30度为1步长，共12步。同 时每个角度也需要测试暗室测量天线的水平和垂直两种极化方向。因此测试点的总数为 6*12*2 = 144点。在每个测试点，测试系统将逐步降低基站仿真器的发射功率，然后发送固 定长度且随机内容的数据包。移动终端接收到这些数据包后，通过发射通路环回给基站仿 真器。从而获得暗室测量天线在45度步长下水平极化和垂直极化方向的数据；
[0049] 在所述步骤S3中，基站仿真器对比发送和接收到的数据包的每个比特（bit)，计 算出误比特率（Bit Error Rate, BER)。直至BER超出标准门限（根据3GPP标准，全球移 动通信系统（GSM)的BER标准为小于2. 44%，宽带码分多址系统（WCDMA)的标准为小于 0. 1%，LTE为吞吐量大于96% )，此时基站仿真器的当前发射功率即为当前测试点的等效 灵敏度EIS。
[0050] 在获得每个测试点的等效灵敏度EIS后，将等效灵敏度EIS补偿上暗室的路径损 耗（Path Loss，在固定频点和暗室测量天线极化方向上，为一个固定偏插值），进行积分计