110A与参考元件120A之间的布线8的布置变得容易，并且能够使布线8的长度一致。由此，来自参考元件120A的参考信号作为参照用的信号而成为更准确的信号。
[0112](第2实施方式)
[0113]接下来，参照图8来说明本发明的第2实施方式所涉及的检体传感器100B。
[0114]在上述第1实施方式所涉及的检体传感器100A中，说明了直接利用来自检测元件110以及参考元件120的信号的示例。相对于此，如图8所示的第2实施方式所涉及的检体传感器100B那样，也可以在检测元件110与第1分支部131之间、以及参考元件120与第2分支部132之间，分别配置低噪声放大器133(第1低噪声放大器133a、第2低噪声放大器 133b)。
[0115]根据上述构成，即便在如下的情况下，也能够获得高的检测精度。
[0116]一般而言，在SAW传感器中，若灵敏度高，则振幅特性的变化也大。为此，如果采用调整保护膜4的厚度等使得灵敏度变高的设计，则浪费大，存在无法准确测定之虞，但通过经由低噪声放大器133，从而能够获得高的检测精度。另一方面，虽然若向计算部140输入的信号小，则存在噪声变多、检测精度变低之虞，但是通过使低噪声放大器133介于向计算部140输入的输入路径，从而能够获得高的检测精度。低噪声放大器133优选设置在向计算部140输入的输入路径之中的接近各元件110、120的一侧。
[0117]此外，如果增大输入给检测元件110以及参考元件120的信号，则存在相互的输入信号彼此、或这些输入信号与其他信号会发生串扰等的不良影响之虞，但通过使低噪声放大器133介于从检测元件110以及参考元件120输出的输出路径，从而能够抑制上述那样的串扰，获得高的检测精度。进而，如果增大输入给检测元件110以及参考元件120的信号，则存在相互的输入信号彼此、或这些输入信号与其他信号会作为电磁波而向外部泄漏之虞，但通过使低噪声放大器133介于从检测元件110以及参考元件120输出的输出路径，从而能够抑制上述那样的电磁波向外部的泄漏，获得高的检测精度。
[0118]〈检体传感方法〉
[0119]说明本发明的实施方式所涉及的检体传感方法。
[0120](检体溶液供应步骤)
[0121]首先，进行的检体溶液供应步骤，将包含靶物的检体供应给质量根据靶物的吸附或者与靶物的反应而发生变化的检测元件的检测部、和不吸附靶物或者不与靶物反应的参考元件的参考部。
[0122](分支步骤)
[0123]其次，将与检测部的质量变化相应的交流信号即检测信号以及来自参考部的交流信号即上述参考信号之中的一个信号分支为两个相位相同的第1信号和第2信号，将另一个信号分支为相位与第1信号相同的第3信号和使相位偏差除180°之外的值的第4信号。
[0124]在此，第4信号的相位只要相对于第1信号的相位而设为除±180°之外的值即可，可以适当地选择，但优选设为±90°。
[0125]另外，优选，先于上述分支步骤之前，分别放大检测信号和参考信号。
[0126](第1计算步骤)
[0127]接下来，根据第1信号和第3信号并利用外差方式来获得第1计测信号。
[0128]在此，在执行外差方式时，既可以从第1信号中减去第3信号，也可以从第3信号中减去第1彳g号。
[0129](第2计算步骤)
[0130]同样地，根据第2信号和第4信号并利用外差方式来获得第2计测信号。
[0131]在此，在执行外差方式时，与上述第1计算步骤同样，既可以从第2信号中减去第4信号，也可以从第4信号中减去第2信号。
[0132](计测步骤)
[0133]其次，根据第1计测信号来算出两个第1相位变化候选值，根据第2计测信号来算出两个第2相位变化候选值，将两个第1相位变化候选值和两个第2相位变化候选值之中的形成值最小的组合的候选值设为第1相位变化值以及第2相位变化值。
[0134](选择步骤)
[0135]进而，预先求出第1计测信号和第2计测信号的轨迹的两个交点的强度，将第1计测信号和第2计测信号之中的位于上述两个交点强度之间的信号选择为计测信号。同样地，将第1相位变化值和第2相位变化值之中的与该计测信号对应的值选择为相位变化值。
[0136](检测量算出步骤)
[0137]根据在选择步骤中选择出的相位变化值来算出检体的检测量。
[0138]能够经过以上的步骤来测定检体检测量。
[0139]本发明并不限定于以上的实施方式，能够以各种形态来实施。
[0140]例如，在上述的实施方式所涉及的检测传感器中，如图3等所示那样构成为:预先求出第1计测信号和第2计测信号的轨迹的两个交点的强度，将第1计测信号和第2计测信号之中的位于两个交点强度之间的信号选择为计测信号。取而代之，也可以构成为:将第1相位变化值以及第2相位变化值之中的信号的输出值(例如V1、V2)接近给定的基准值的一方选择为相位变化值。根据上述构成，能够起到与上述实施方式同样的效果，并且能够以给定的基准值为基准来确定要选择的相位变化值。在此，作为基准值，例如能够设定上述两个交点强度的中点、或0(零)等。在利用图3所示那样的理论轨迹的情况下，作为基准值的两个交点强度的中点成为零。另外，作为基准值，并不限于两个交点强度的中点，只要考虑第1计测信号以及第2计测信号而设定为能够获得高灵敏度的计测信号这样的适当值即可。
[0141]此外，在上述实施方式所涉及的检测传感器中，如图1?图3等所示，在第2分支部132中，将第3信号的相位设为与第1信号相同，使第4信号的相位与第1信号的相位偏差90°。第1?第4信号的相位的设定并不限于此，只要设定为第1计测信号和第2计测信号具有除±180°之外的相位差即可。如图9所示的检体传感器100C那样，例如也可以将第1信号和第2信号设为相同的相位，使第3信号的相位相对于第1信号的相位而偏差-45°，并且使第4信号的相位相对于第1信号的相位而偏差+45°。在此情况下，也能够起到与上述实施方式所涉及的检体传感器同样的效果。
[0142]此外，在上述实施方式所涉及的检测传感器中，如图1等所示那样，第1分支部131以及第2分支部132分别分支为两个信号，但取而代之，也可以设定为第1分支部131以及第2分支部132分别分支为三个或三个以上的信号。如图10所示的检体传感器100D那样，例如在第1分支部131以及第2分支部132分别分支为三个信号的情况下，利用所获得的信号之中的各两个信号并通过外差方式来获得具有互不相同的相位差的三个计测信号，从而可以起到与上述检测传感器同样的效果。而且，此时，在三个计测信号的各个计测信号中倾斜度小的区域较宽的情况下，换言之能够灵敏度良好地计测各个计测信号的区域较窄的情况下，也能够设定为从三个计测信号中选择具有更高灵敏度的区域的计测信号，从而可以更有效地抑制灵敏度的下降。
[0143]此外，在上述实施方式所涉及的检测传感器中，如图1等所示那样，具有如下构成:检测元件110以及参考元件120各为一个，一个检测元件110和第1分支部131连接，并且一个参考元件120和第2分支部132连接。取而代之，如图11所示的检体传感器100E那样，可以构成为:将检测元件以及参考元件设为两个以上，两个以上的检测元件110a、b和第1分支部131连接，并且两个以上的参考元件120a、b和第2分支部132连接。在此情况下，只要第1分支部131通过开关136a能够选择地与两个以上的检测元件110a、b之中的任一者连接，第2分支部通过开关136b能够选择地与两个以上的参考元件120a、b之中的任一者连接即可。根据该构成，可以在不改变分支部130以后的构成的情况下，一次性地即利用一个检体来检测两个以上的检测对象。此外，如图11的各开关135、136的构成所示那样，例如能够构成为，第1分支部以及第2分支部分别还能与检测元件以及参考元件的任一者连接。进而，取代这些构成，也可以将检测元件设为三个，将参考元件设为一个。在此情况下，只要是第1分支部以及第2分支部当中的任意一方与参考元件连接的构成，则另一方与三个检测元件当中的哪一者连接并不特别限定，能够根据检测对象的种类、数量来适当设定。
[0144]此外，在上述实施方式所涉及的检测传感器中，利用检测元件110A和参考元件120A共有具有压电性的基板的示例来进行了说明，但是也可以将检测元件110A用的元件基板和参考元件120A用的第2基板设为分开体。在此情况下，能够抑制检测元件110A与参考元件120A之间的串扰。在这种情况下，只要设置保持元件基板和第2基板的分开体的基体即可。
[0145]符号说明
[0146]1…压电基板
[0147]2…板状体
[0148]3…外罩
[0149]4…保护膜
[0150]5a…检测第1ID