一种高分子材料电阻测试设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试设备领域，具体而言，涉及一种高分子材料电阻测试设备。
【背景技术】
[0002]高分子材料领域是近些年较为热门的领域，一些新的高分子材料被研制出来后往往需要对其性能进行测试，电阻测试就是其中的一项。
[0003]传统的电阻测试设备，由于结构比较简单，不能够对高分子材料在多种状态下的电阻进行测试，例如，传统的电阻测试设备不能对高分子材料在真空状态下进行测试，因此不能够得出更为完善的数据。
【发明内容】
[0004]本发明提供了一种高分子材料电阻测试设备，旨在解决上述问题。
[0005]本发明是这样实现的:
[0006]—种高分子材料电阻测试设备，包括设备本体，该设备本体包括电阻测试仪，设备本体顶部设有与其可拆卸连接的真空罩，该真空罩的顶部设有与其螺接的盖体，真空罩的侧壁设有抽气口；所述设备本体的顶部设有插接机构，该插接机构包括插槽，插槽的外侧设有环形的第一凸台，第一凸台的顶部设有密封圈；所述真空罩的外侧底部设有环形的第二凸台，该第二凸台的高度低于所述第一凸台，且第一凸台与第二凸台之间存在间隙；所述密封圈的边缘延伸出第一凸台并延伸至第二凸台的上方。
[0007]这种结构的电阻测试设备能够对高分子材料在真空状态下进行电阻测试，测量出更完善的数据;真空度可以实时调节，测量不同真空度下高分子材料的电阻，给工业应用带来更完善的数据。同时其结构设计合理，能够方便地拆卸并抽取真空，使测量过程能够顺利进行。
[0008]进一步地，所述第一凸台的顶面为斜面，第一凸台较高的一侧靠近所述第二凸台。如图所示，斜面的设置使密封圈延伸出第一凸台的部位为倾斜结构，在安装真空罩时及抽取真空后，能够更好地完成各步骤，密封圈与第二凸台的贴合更加紧密，阻断空气的效果更好。
[0009]进一步地，所述第二凸台的高度高于所述第一凸台的最低高度且低于第一凸台的最高高度。这种高度差的设计使第二凸台与第一凸台之间配合更好，插接真空罩时密封圈能够更顺利地弹出，抽真空后密封效果更好。
[0010]进一步地，所述插槽的槽底设有弹性机构，该弹性机构包括支撑板及设于支撑板底部的弹性件，所述弹性件的底端与插槽的槽底固定连接，所述真空罩的底部放置于所述支撑板上。在插接真空罩时用力下压，压缩弹性件使密封圈能够顺利地弹出并位于第二凸台的上方;抽真空后外界大气压对密封圈具有向下的压力，弹性件及支撑板对真空罩有向上的弹力，使二者之间的密封效果更好。
[0011]进一步地，所述弹性件有沿插槽的延伸方向间隔设置的多个。多个弹性件的设置使其对真空罩的弹力更强，且支撑效果更稳定。
[0012]进一步地，所述真空罩上设有与抽气口活动连接的密封罩，该密封罩包括依次相连的密封片、连接块及阻挡块，所述密封片位于抽气口的外侧，所述连接块穿过所述抽气口并延伸至抽气口的内部，所述阻挡块位于抽气口的内侧;所述密封片的尺寸大于所述抽气口，所述阻挡块有环形间隔分布的多个。
[0013]如图所示，密封罩插接在抽气口处，阻挡块位于抽气口内部，密封片位于抽气口外部。在抽气时，受抽真空设备的抽力作用密封罩向外运动，使阻挡块与抽气口的内侧贴合，由于阻挡块有环形间隔分布的多个，两个阻挡块之间存在间隙，使真空罩内部的空气能够顺利被抽出。抽真空结束后受外界气压的压力，将密封片紧紧地压在抽气口的孔口处，使外界大气不会由抽气口处进入真空罩内部，使真空罩内部保持真空状态。
[0014]进一步地，所述密封片包括相连的外片体及内片体，所述外片体用刚性材质制成，所述内片体用柔性材质制成。刚性的外片体确保了密封片的刚度，使其不会被大气压压弯，具体可采用硬质塑料或金属制成;柔性的内片体确保了密封片的密封效果，使其能够与抽气口紧密贴合，具体可选用橡胶、硅胶或塑胶制成。
[0015]进一步地，所述外片体远离内片体的一侧与真空罩之间连接有压缩弹簧，所述压缩弹簧有环形分布的多个。抽真空时压缩弹簧进一步压缩;抽真空后受压缩弹簧的弹力，密封片能够快速地与抽气口贴合，使大气不会进入真空罩内，确保了真空罩的真空效果，在持压时受压缩弹簧的持续压力，使密封片与抽气口之间不会有气体通过。
[0016]进一步地，所述设备本体上设有第一导电片，所述第一导电片位于真空罩的内侧；所述真空罩包括用透明材质制成的观测部，真空罩的侧壁设有与其螺接的调节件，该调节件位于真空罩内部的一端连接有第二导电片;旋拧所述调节件用于使第一导电片接触或分离。
[0017]两个导电片分别与电源的两极连接，高分子材料连接在电路回路上，旋拧调节件，使第一导电片与第二导电片接触，使电路接通，观测此时高分子材料的电阻。这种设计使高分子材料在测试之前能够先放入真空罩内，再进行抽真空的工作，之后再打开设备本体，接通电源，进行电阻的测试。使得测试之前的各过程中高分子材料不处于通电状态，一方面能够起到省电的效果，另一方面，使通断电能够在真空状态下进行，可以观测到高分子材料接通电源瞬间、通电稳定后以及断电瞬间各阶段的电阻值，测试到更多更完善的数据，给高分子材料的工业应用带来宝贵的数据资源。
[0018]进一步地，所述真空罩的侧壁设有螺接部，所述调节件与该螺接部螺接，所述螺接部为双层结构。调节件与螺接部螺接，双层的螺接部不仅使真空罩与调节件的连接效果更好，且密封效果更好，测试过程中不会进入空气，使测试能够顺利进行。
[0019]本发明的有益效果是:本发明通过上述设计得到的高分子材料电阻测试设备，使用时能够对高分子材料在真空状态下进行电阻测试，测量出更完善的数据;真空度可以实时调节，测量不同真空度下高分子材料的电阻，给工业应用带来更完善的数据。同时其结构设计合理，能够方便地拆卸并抽取真空，使测量过程能够顺利进行。
【附图说明】
[0020]为了更清楚地说明本发明实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0021 ]图1是本发明实施方式提供的高分子材料电阻测试设备的主视图；
[0022]图2是本发明实施方式提供的高分子材料电阻测试设备的俯视图；
[0023]图3是本发明实施方式提供的高分子材料电阻测试设备的侧视图；
[0024]图4是本发明实施方式提供的高分子材料电阻测试设备的局部剖视图；
[0025]图5是图4的局部放大图；
[0026]图6是本发明实施方式提供的高分子材料电阻测试设备抽真空后密封圈的结构示意图；
[0027]图7是本发明实施方式提供的高分子材料电阻测试设备中密封罩及抽气口的结构示意图；
[0028]图8是本发明实施方式提供的高分子材料电阻测试设备中密封罩及抽气口在抽气时的结构不意图；
[0029]图9是本发明实施方式提供的高分子材料电阻测试设备中密封罩及抽真空后的结构示意图；