一种测试修调电路及一种集成电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电路控制领域，尤其涉及一种测试修调电路及一种集成电路。
【背景技术】
[0002]高精度输出的集成电路，通常需要在生产出来后进行精确的修调。修调是根据测试到的参数选择并固化集成电路设计时集成的多个选项之一。修调通常是在晶圆分割、封装前进行。在晶圆分割、封装前进行精确的测试和修调需要使用昂贵的机台，并花费较长时间进行步进测试和参数调整，成本较高。修调后的晶圆在封装时，切割和封装过程都会对集成电路的物理特性产生影响，可能导致修调好的参数产生漂移。
[0003]为保证每一颗集成电路都能达到较高的精度要求，集成电路封装之后的测试与修调显得尤为重要。为了方便集成电路参数测试，通常会将重要的线路节点封出管脚来进行测试，或者通过集成电路内部集成的测试模式设定电路，将集成电路设置成测试模式后，对部分参数进行测试。无论是通过封出管脚测试还是进入测试模式，都不能影响到集成电路的正常应用。
[0004]在现有技术中，一种包括模式触发电路和脉宽检测电路的测试模式设定电路，如图1所示，进行测试模式设定时，在集成电路的输出电压端口施加模式触发信号，该信号与基准信号进行比较以产生脉冲信号，脉宽检测电路接收脉冲信号，并检测脉冲信号的脉宽，输出脉宽检测信号，所述测试模式设定电路根据脉宽检测信号进入相应的测试模式，该测试模式设定电路各信号工作时的波形如图2所示。然而，脉宽检测电路无疑增加了设计难度和线路面积;而且对脉宽分档首先需要输入信号产生不同的脉宽信号，再通过内部检测电路加以分档，不仅影响效率也对脉宽检测精度有较高的要求。
[0005]—种包括开关控制模块、修调值载入模块、熔丝熔断控制模块以及修调模块的熔丝修调电路，能够在晶圆封装好后再进行修调。然而在该电路中，修调值载入模块需要延时输入具有上升沿的TTL脉冲信号至CP端口，且延时时间会受到制造工艺偏差和封装应力等影响。
[0006]还有一种芯片参数修调电路，用于在芯片封装后执行参数修调。具体修调时，给每个修调单元发送一组修调信号，每个修调单元根据这一组修调信号永久性的输出一组逻辑信号，该组逻辑信号实现对一个参数进行修调控制。然而在该电路中，无法在触发信号的一个时钟序列内同时完成集成电路的参数测试与修调，控制信号需要多个时钟序列才能完成测试和修调。
【发明内容】
[0007]本发明的实施例提供了一种测试修调电路，用以实现在一个时钟序列内完成对集成电路的测试和修调。
[0008]本发明的一个实施例提供的测试修调电路，设置在集成电路内部，包括:
[0009]模式选择模块，以及分别与所述模式选择模块电性连接的测试模块和修调模块，所述模式选择模块与所述集成电路的第一管脚连接，所述测试模块与所述集成电路的第二管脚连接；
[0010]所述模式选择模块接收通过所述第一管脚输入的触发信号，根据所述触发信号的电平值输出第一模式选择信号到所述测试模块和/或输出第二模式选择信号到所述修调模块；
[0011]所述测试模块被所述第一模式选择信号使能后对集成电路测试位进行测试，并通过所述第二管脚输出测试信息；
[0012]所述修调模块被所述第二模式选择信号使能后对集成电路修调位进行修调。
[0013]优选地，所述修调电路还包括:时钟模块、与所述时钟模块电性连接的选通模块，所述选通模块分别与所述测试模块和所述修调模块连接;所述时钟模块与所述第一管脚连接；
[0014]所述时钟模块接收通过所述第一管脚输入的触发信号，输出对应的时钟信号，所述时钟信号的相位与触发信号一致；
[0015]所述选通模块根据接收到的时钟信号的脉冲以及脉冲数量对应的集成电路的测试位，向所述测试模块输出对应测试位的选通信号，和/或根据接收到的时钟信号的脉冲以及脉冲数量对应的集成电路的修调位，向所述修调模块输出对应修调位的选通信号;其中，时钟信号的脉冲数量与集成电路测试位和/或修调位的对应关系被预先配置在所述选通模块中；
[0016]所述测试模块根据接收到的选通信号，在被使能的情况下，对所述选通信号所对应的集成电路的测试位进行测试；
[0017]所述修调模块根据接收到的选通信号，在被使能的情况下，对所述选通信号所对应的集成电路的修调位进行修调。
[0018]具体地，所述选通模块具体用于:通过N路地址线将选通信号发送给所述测试模块，通过M路地址线将选通信号发送给所述修调模块，其中，在同一时刻，所述N路地址线和所述M路地址线中只有一条地址线上传输高电平信号，其余地址线上传输低电平信号。
[0019]具体地，所述选通模块包括:计数电路和译码电路；
[0020]所述计数电路，用于对接收到的时钟信号的上升沿进行计数，输出当前计数值对应的二进制序列给所述译码电路；
[0021]所述译码电路，用于将接收到的二进制序列转换为对应的集成电路的测试位或修调位的选通信号并通过N路与测试模块连接的地址线和M路与修调模块连接的地址线输出；其中，每个二进制序列对应一个集成电路的测试位或修调位，所述N路地址线和M路地址线输出的信号构成一个集成电路测试位或修调位的选通信号。
[0022]具体地，所述时钟信号的相位和脉宽与接收到的触发信号一致;一路地址线上的选通信号的相位和脉宽与对应的时钟信号的相位和脉宽一致。
[0023]具体地，所述修调模块包括M个逻辑固化电路，每个逻辑固化电路用于对一个集成电路的修调位进行修调;每个逻辑固化电路通过一个开关与M路地址线中的一路地址线连接，当一路地址线上传输有选通信号时，该地址线连接的开关闭合，该开关连接的逻辑固化电路对相应的集成电路修调位进行修调。
[0024]进一步地，所述修调模块，还包括电源选择电路，用于在接收到所述第二模式选择信号时选择使用第一电源为逻辑固化电路供电，否则选择使用第二电源为逻辑固化电路供电；所述第一电源为逻辑固化电路供电时，所述逻辑固化电路中的熔丝上的电流大于该熔丝的熔断电流，所述逻辑固化电路对相应的集成电路修调位进行修调;所述第二电源为逻辑固化电路供电时，所述逻辑固化电路中的熔丝上的电流小于熔丝的熔断电流。
[0025]具体地，所述模式选择模块具体用于将所述触发信号的电平值分别与第一基准电平值和第二基准电平值进行比较;其中，所述第一基准电平值和所述第二基准电平值由所述集成电路的电源电平与不同的金属氧化物半导体晶体管导通电压阈值叠加产生，所述第二基准电平值大于所述第一基准电平值；
[0026]若所述触发信号的电平值大于所述第一基准电平值，则输出第一模式选择信号；若所述触发信号的电平值大于所述第二基准电平值，则输出第二模式选择信号。
[0027]具体地，所述第一模式选择信号的相位和脉宽与触发信号的相位和脉宽一致;所述第二模式选择信号的相位和脉宽与触发信号的相位和脉宽一致。
[0028]本发明实施例还提供了一种集成电路，所述集成电路包括上测试修调电路，以及第一管脚和第二管脚。
[0029]本发明的上述实例中，根据第一管脚输入的触发信号的电平大小，输出第一触发信号或第二触发信号控制测试修调电路对集成电路测试位或修调位进行测试或者修调，因此，能够通过改变触发信号的电平大小，完成测试、修调的转换，进而使得测试修调电路能够在一个时钟序列内完成对集成电路的测试和修调。
【附图说明】
[0030]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1为现有技术中的一种测试模式设定电路的结构框图；
[0032]图2为现有技术中测试模式设定电路的信号波形示意图；
[0033]图3为本发明实施例提供的一种测试修调电路的原理框图；
[0034]图4为本发明实施例提供的另一种测试修调电路的原理框图；
[0035]图5为本发明实施例提供的信号波形示意图；
[0036]图6为本发明实施例提供的一种模式选择模块原理示意图；<