>[0050]a”?d”:比较输入端
[0051]Cl ?C4:电容
[0052]CTL:控制信号
[0053]Dl:二极管
[0054]el?e4:比较输出端
[0055]LI ?L3:电感
[0056]Rl ?R4:电阻
[0057]RS:射频信号
[0058]S500?S514:本发明一实施例的施行步骤
[0059]TP:测试点
[0060]Ts:检测信号
[0061]Ws:整流信号
【具体实施方式】
[0062]请参照图1A，其为根据本发明一实施例的射频装置的电路方块图。在本实施例中，射频装置10包括了一个射频电路10a以及用来检测射频电路10a的检测电路150。射频电路10a是可以用来发送或者接收射频信号RS的电路，且其中包括许多个射频发射/接收组件以及一个射频切换器106 ;而检测电路150则包括一个检测信号产生单元152、一个平缓检测信号单元154、一个第一滤波单元156以及一个检测结果提供单元158。
[0063]如图所示，射频电路10a之中的射频切换器106电性耦接至所述的多个射频发射/接收组件102，并且根据控制信号CTL而控制将射频信号RS传送至其中一个射频发射/接收组件102的其中之一，或者控制从其中一个射频发射/接收组件102接收射频信号RS。此外，由检测电路150所延伸而来的测试接线会电性耦接在射频切换器106的至少一个端点上以检测此端点的电气特性。而射频切换器106则可以接收根据电气特性的检测结果所产生的控制信号CTL，并受控制信号CTL的控制而决定使用其中一个射频发射/接收组件102来传递射频信号RS。
[0064]请参照图1B，其为根据图1A的实施例的特定样态所得的射频装置的电路方块图。在此特定样态的实施例中，图1A中的多个射频发射/接收组件102被简化为一个内建式射频发射/接收组件102a以及一个可用于耦接可拆卸式射频发射/接收组件的外部射频连接器102b。其中，射频切换器106通过射频端点106a从外接收或者向外传递射频信号RS，并且通过射频端点106b选择电性耦接到内建式射频发射/接收组件(后亦称为第一射频发射/接收组件)102a或通过射频端点106c选择电性耦接到外部射频连接器102b。射频切换器106可以藉由耦接射频端点106b而将射频信号RS传递至内建式射频发射/接收组件102a或从内建式射频发射/接收组件102a接收射频信号RS ;或者，射频切换器106也可以藉由耦接射频端点106c而将射频信号RS传递至外部射频连接器102b或者从外部射频连接器102b接收射频信号RS。
[0065]再者，假设射频电路10b是默认以内建式射频发射/接收组件102a来进行射频信号RS的发射与接收，则射频切换器106会被预设为耦接到射频端点106a与106b，并且由检测电路150所延伸而来的检测线会被设计为与射频切换器106的射频端点106c电性耦接。藉此，检测电路150可以检测出与射频端点106c电性耦接的电路组件的电气特性，并据以判断是否要使射频切换器106由原本耦接的射频端点106b转为耦接至射频端点106c。
[0066]上述状况被显示于图2A与图2B中。请一并参照图1B以及图2A与2B，其中图2A为根据本发明一实施例的测试点TP与射频切换器的射频端点之间的电路连接关系示意图，图2B为图2A所示的射频切换器切换所耦接的射频端点后的电路连接关系示意图。如图2A所示，射频切换器506是一个电子式的单闸切换器，其受控制信号CTL的控制而选择将射频端点506a切换至与射频端点506b或射频端点506c电性耦接。在运作之初，射频电路10a会使射频切换器506选择将射频端点506a与506b电性耦接在一起，以使射频电路10a能使用第一射频发射/接收组件502来发射或接收射频信号RS。而当第二射频发射/接收组件(图未示)被接入到外部射频连接器504之中，检测电路150就可以藉由侦测测试点TP的电气特性而侦测到在第二射频发射/接收组件被接入至外部射频连接器504时，对外部输入端158a所接收的电位造成的变化；最终，检测结果提供单元158将根据外部输入端158a的电位而决定所发出的控制信号CTL的内容，并在妥适接入正常的第二射频发射/接收组件时，以控制信号CTL通知射频切换器506改变为如图2B所示一般，将射频端点506a与506c电性耦接在一起，以藉此通过外部射频连接器504而使用第二射频发射/接收组件来传递射频信号RS。
[0067]反过来，当射频切换器106是以如图2B的方式将射频端点506a与506c电性耦接在一起，以藉此通过外部射频连接器504而使用第二射频发射/接收组件来传递射频信号RS时，一旦第二射频发射/接收组件脱离外部射频连接器504而不再与外部射频连接器504相连接，或者外部射频连接器504与相关电路出现异常的开路或短路，检测电路150就可以藉由侦测测试点TP的电气特性而侦测到此连接状况的变化对外部输入端158a所接收的电位造成的影响。最终，检测结果提供单元158将藉由所发出的控制信号CTL的内容而使射频切换器506改变为如图2A所示一般，将射频端点506a与506b电性耦接在一起，以重新通过第一射频发射/接收组件502来传递射频信号RS。
[0068]上述所示者为考虑特定条件时所采用的电路连接方式。而在不同的实施方式中，可以选择采用不同的电路连接方式。
[0069]请参照图1A以及图3A与3B，其中，图3A为根据本发明另一实施例的测试点TP与射频切换器的射频端点之间的电路连接关系示意图，图3B为图3A所示的射频切换器切换所耦接的射频端点后的电路连接关系示意图。如图3A所示，在本实施例中，为了检测运作时在射频电路10a中实际传递射频信号RS的电路的电气特性，上述的测试点TP是耦接到射频切换器506的射频端点106a。藉由此种耦接设计，当射频切换器506通过射频端点506b而电性耦接到第一射频发射/接收组件502的时候，检测电路150所检测到的整体电路就包括:第一射频发射/接收组件502整体、第一射频发射/接收组件502到射频切换器506之间的电路，以及射频切换器506的射频端点506a所电性耦接的所有电路。
[0070]如图3B所示，上述的耦接设计在射频切换器506通过射频端点506c而电性耦接到外部射频连接器504时，检测电路150所检测到的整体电路会包括:外部射频连接器504、外部射频连接器504到射频切换器506之间的电路，以及射频切换器506的射频端点506a所电性耦接的所有电路。甚至，如果有一个外接型的射频发射/接收组件被接入到外部射频连接器504，那么所检测到的整体电路还进一步包括了外部射频连接器504与外接型的射频发射/接收组件之间的耦接现状，以及外接型的射频发射/接收组件内的整体电路。由于检测的电路范围包括了外接型的射频发射/接收组件，所以可以检测出外接型的射频发射/接收组件的电气特性是否改变(例如，由正常工作转变为异常工作状况)。
[0071]或者，请参照图1A以及图4A与4B，其中，图4A为根据本发明再一实施例的测试点TP与射频切换器的射频端点之间的电路连接关系TK意图，图4B为图4A所TK的射频切换器切换所耦接的射频端点后的电路连接关系示意图。如图4A所示，本实施例预设使用第一射频发射/接收组件502来传递射频信号RS，并将测试点TP设置为与射频端点506b电性耦接；也就是说，射频端点506a及射频端点506b为预设电性耦接的电路状况。当第一射频发射/接收组件502产生异常，例如不当开路或短路时，检测电路150就可以藉由侦测测试点TP的电气特性而侦测到此异常状况对外部输入端158a所接收的电位造成的影响。最终，检测结果提供单元158将藉由所发出的控制信号CTL的内容而使射频切换器506改变为如图4B所示的连接方式，以切换使用接入至外部射频连接器504的第二射频发射/接收组件。若在检修后经检测电路150判断测试点TP的电气特性已经回复正常，则检测结果提供单元158将藉由所发出的控制信号CTL的内容而使射频切换器506切换为图4A所示的连接方式，以再次使用第一射频发射/接收组件502来传递射频信号RS。
[0072]综上所述，当只想要检测第一射频发射/接收组件502的相关电路是否正常时，可以将测试点TP的位置以及射频切换器506的内部连接方式设计为如图4B所示的状态。而当只想要检测与外部射频连接器504及与其连接的相关电路(包括外接型的射频发射/接收组件)是否正常时，则可以将测试点TP的位置以及射频切换器506的内部连接方式设计为如图2A所示的状态。而若想检测的是目前用以传递射频信号RS的相关射频电路，那么就可以将测试点TP的位置以及射频切换器506的内部连接方式设计为如图2B、图3A、图3B或图4A所示的状态。
[0073]上述的实施例虽然仅以一个射频发射/接收组件与一个外部射频连接器作为切换使用