一种to筛选系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本申请涉及电子领域，特别涉及一种TO筛选系统。
【背景技术】
[0002]光纤通信因其具有资源占用少，信息容积量大，传输效率高，信号抗干扰能力强等优点，正越来越被人们接受普及，光纤通信的相关生产领域正以前所未有的速度迅猛发展，其中，光纤通信的核心器件一一激光器正被广泛使用。
[0003]激光器的生产是一项高投入的精密工艺，通信用激光器目标产品体积虽然小，器件内部构造却精细复杂，对生产辅料要求高，核心辅料TO(Transmitter Optical)的光电性能技术指标更是要求限定在指定的范围内，比如在工作模式下的背光电流参数可以很大程度上反映TO的品质，如果能够在投入到激光器生产过程前通过背光电流对TO进行测试，保证TO的质量合格，激光器生产的不良率会大幅度下降，同时生产成本、客户投诉、产品返修成本也将大幅度降低。
[0004]目前，可以通过PIV(激光器综合性能参数)测试系统对TO进行背光电流进行测试，但是，PIV测试系统与每个TO连接分别需要3根驱动线，PIV测试系统在依次测试多个TO的情况下，需要连接多根驱动线，安装工作繁杂，延长了测试的总时间，降低了工作效率，并且PIV测试系统与TO的连接线庞大复杂，不易维护。
【发明内容】
[0005]为解决上述技术问题，本申请实施例提供一种TO筛选系统，以达到缩短TO测试的总时间，提高工作效率以及系统易维护的目的，技术方案如下:
[0006]一种TO筛选系统，包括:上位机、激光器综合性能参数PIV测试盒、控制分配盒和TO器件单元，所述TO器件单元包括总线板和N个PCB板，所述总线板包括总线、总线板输入输出接口和N个PCB插槽，各个PCB板各自包括一个PCB输入输出接口和M个TO座，所述N为大于O的整数，所述M为大于I的整数；
[0007]所述上位机分别与所述PIV测试盒和所述控制分配盒相连，所述PIV测试盒与所述控制分配盒相连，所述控制分配盒的控制分配盒输入输出接口与所述总线板输入输出接口相连；
[0008]第iPCB板的PCB输入输出接口与第iPCB插槽相连，所述i= {l，2，3，...,N}；
[0009]所述上位机，用于获取用户输入的选址指令，并输出所述选址指令至所述控制分配盒，及输出扫描输出指令至所述PIV测试盒，接收相应的PCB板采集的与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数，依据所述状态参数判断与所述选址指令相符的待检测TO是否合格；
[0010]所述控制分配盒，用于在接收到所述选址指令后，将所述选址指令编译成地址码，将所述地址码发送至各个PCB板，并将所述PIV测试盒在接收到所述扫描输出指令后，输出的驱动信号转发至与所述选址指令相符的待检测TO所属PCB板，转发相应的PCB板采集的与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数至所述PIV测试盒；
[0011]所述PIV测试盒，用于在接收到所述扫描输出指令后，输出驱动信号，并转发与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数至所述上位机；
[0012]所述TO座，用于安装待检测T0;
[0013]所述PCB板，对用于所述控制分配盒发送的地址码进行解析，得到页面码和页内选址码，在所述页面码与所述PCB板的编号相符时，驱动所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO工作，并输出与所述驱动信号相符的检测电流至所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测T0，及采集所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO在所述检测电流下的状态参数，并将所述状态参数返回至所述控制分配盒；
[0014]其中，所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO为与所述选址指令相符的待检测T0。
[0015]优选的，所述PIV测试盒包括:输出单元，用于在接收到所述扫描输出指令后，按照预设步进间隔逐步输出相应的驱动信号。
[0016]优选的，所述状态参数包括:背光电流和正向电压。
[0017]优选的，所述总线板输入输出接口具体为16Pin接口；
[0018]所述控制分配盒输入输出接口具体为:16Pin接口；
[0019]在所述总线板输入输出接口具体为16Pin接口，且所述控制分配盒输入输出接口具体为16Pin接口时，所述N为大于O且不大于8的整数，所述M为大于I且不大于64的整数。
[0020]优选的，所述第iPCB板的PCB输入输出接口具体为:欧式48Pin插座；
[0021 ]所述第iPCB插槽具体为:欧式48Pin插座；
[0022]其中，所述欧式48Pin插座的48个脚位平均分成16组，每组对应所述16Pin接口中的一个脚位。
[0023]优选的，还包括:
[0024]TO夹具，用于与所述TO器件单元适配连接；
[0025]所述TO夹具包括:测试架底板、4个测试架立柱、2个手柄横杆、第一PCB固定板、第二 PCB固定板、第一 PCB卡槽、第二 PCB卡槽、横梁、第一锁件、第二锁件、第三锁件、锁板和PCB托块；
[0026]所述测试架底板分别与4个所述测试架立柱匹配连接，2个手柄横杆分别与所述测试架立柱匹配连接，所述第一 PCB固定板与所述第二 PCB固定板匹配连接，所述第一 PCB卡槽和所述第二 PCB卡槽均与所述测试架立柱匹配连接，所述横梁与所述第一锁件匹配连接、所述锁板与所述第一锁件匹配连接，所述PCB托块与所述锁板匹配连接，所述第二锁件和所述第三锁件均与所述锁板匹配连接。
[0027]与现有技术相比，本申请的有益效果为:
[0028]在本申请中，通过控制分配盒的控制分配盒输入输出接口与TO器件单元的总线板输入输出接口相连，第iPCB板的PCB输入输出接口与所述TO器件单元中第iPCB插槽相连，实现控制分配盒与各个PCB板的总线连接，各个PCB板上的TO座在安装待检测TO后，实现控制分配盒与各个待检测TO的连接，只需要一根总线即可连接各个TO到上位机，通过编解码技术(即上位机发送选址指令、由控制分配盒编译地址码，由PCB板进行地址码解析)，完成对各个TO的测试，在TO筛选系统对多个TO依次进行测试之前，不需要连接多根驱动线，安装工作简单，缩短了TO测试的总时间，提高了工作效率。
[0029]并且，上位机、PIV测试盒和控制分配盒与各个TO仅通过一根总线连接，系统易维护。
【附图说明】
[0030]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1是本申请提供的TO筛选系统的一种逻辑结构示意图；
[0032]图2是本申请提供的TO筛选系统的另一种逻辑结构示意图；
[0033]图3是本申请提供的TO夹具的一种结构分解示意图。
【具体实施方式】
[0034]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0035]实施例一
[0036]请参见图1，其示出了本申请提供的TO筛选系统的一种逻辑结构示意图，TO筛选系统包括:上位机IUPIV测试盒12、控制分配盒13和TO器件单元14。
[0037]在本实施例中，TO是一种激光发射器。
[0038]在本实施例中，TO器件单元14包括总线板141和N个PCB板。
[0039]总线板141包括总线1411、总线板输入输出接口1412和N个PCB插槽。N个PCB插槽分别记为PCB插槽c 1、PCB插槽c2、…、PCB插槽cN。
[0040]N个PCB板分别记为PCB板a 1、PCB板a2、…、PCB板aN，各个PCB板各自包括一个PCB输入输出接口和M个TO座。所述N为大于O的整数，所述M为大于I的整数。
[0041]所述上位机11分别与所述PIV测试盒12和所述控制分配盒13相连，所述PIV测试盒12与所述控制分配盒13相连，所述控制分配盒13的控制分配盒输入输出接口与所述总线板输入输出接口 1412相连。
[0042]控制分配盒13的控制分配盒输入输出接口与总线板输入输出接口相连，实现了控制分配盒13通过总线与TO器件单元14相连。
[0043]在本实施例中，第iPCB板的PCB输入输出接口与中第iPCB插槽相连，所述i= {I，2，3,...,N}o
[0044]在本实施例中，第iPCB板的PCB输入输出接口与第iPCB插槽相连，以实现第iPCB板与TO器件单元14的总线相连。在i取不同的值时，相应的PCB板与TO器件单元14的总线相连，可见，本实施例中，各个PCB板分别与TO器件单元14的总线相连。<