1.一种用于数字基带环回测试装置，包括第一SB3500芯片模块（1）、同步晶振模块（3）、缓存模块（2）、第二SB3500芯片模块（4）、电源模块（5）和通信模块（6），其特征在于：所述第一SB3500芯片模块（1）分别电性双向连接同步晶振模块（3）和缓存模块（2），所述同步晶振模块（3）和缓存模块（2）均电性双向连接第二SB3500芯片模块（4），所述电源模块（5）分别电性输出连接第一SB3500芯片模块（1）和第二SB3500芯片模块（4），所述第二SB3500芯片模块（4）电性双向连接通信模块（6），所述第一SB3500芯片模块（1）和第二SB3500芯片模块（4）用于产生数字基带信号，所述同步晶振模块（3）用于对数字基带环回测试发射信号和接收信号进行同步，所述缓存模块（2）用于对数字基带环回测试的发射数据进行缓存和保护数字基带芯片，所述通信模块（6）用于数字基带环回测试装置人机交互，所述电源模块（5）用于数字基带环回测试装置提供电源。
2.根据权利要求1所述的一种用于数字基带环回测试装置，其特征在于：所述第一SB3500芯片模块（1）和第二SB3500芯片模块（4）均包括三组四线程“SBX”DSP核、一组ARM9（ARM926EJ-S）核和四组PSD通道，且四组PSD通道与四组DSP核一一对应连接，所述PSD通道设置有16根并行数据总线、一根方向线和一根单向时钟线。
3.根据权利要求1所述的一种用于数字基带环回测试装置，其特征在于： 所述缓存模块（2）为16位输入输出缓存器。
4.根据权利要求1所述的一种用于数字基带环回测试装置，其特征在于： 所述通信模块（6）内部使用的芯片为串口转换芯片。