一种用于eMMC芯片存储参数测试的方法及系统与流程

文档序号:14912912发布日期:2018-07-10 23:54阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种用于eMMC存储参数测试的方法,其特征在于,包括:

S1,上位机设定写入eMMC芯片的写入文件的大小和内容,发送写入文件和指令至下位机,所述指令包括写入指令;

S2,下位机执行写入指令内容,连续向eMMC芯片写入写入文件;下位机记录写入次数,计算和上传已写入eMMC芯片的数据量、写入速度和eMMC芯片剩余可用容量至上位机;

S3,上位机根据已写入eMMC芯片的数据量和eMMC芯片剩余可用容量,判断eMMC芯片是否写满,若eMMC芯片未写满,返回步骤S2;若eMMC芯片已写满,进行eMMC芯片寿命性能判断方法为:

若eMMC芯片剩余可用容量大于等于单次检测存入数据量,且已写入eMMC芯片的数据量大于等于厂家预估总容量,则该eMMC芯片寿命符合要求,若eMMC芯片剩余可用容量小于单次检测存入数据量,则认为该eMMC芯片寿命不符合要求,结束测试;

其中,所述eMMC芯片剩余可用容量为随着反复擦写不断产生坏块后,eMMC芯片可正常写入的容量,下位机在每次写入时获取;

所述已写入eMMC芯片的数据量等于写入文件的数据量与写入次数的乘积;

所述单次检测存入数据量为设备使用过程中每次测试后存入eMMC芯片的数据量;

所述厂家预估总容量为设备在使用年限内写入eMMC芯片的总数据量。

2.如权利要求1所述的用于eMMC存储参数测试的方法,其特征在于,所述步骤S3的方法替换为:

上位机根据已写入eMMC芯片的数据量和eMMC芯片剩余可用容量,判断已写入eMMC芯片的数据量是否达到厂家预估总容量,

若已写入eMMC芯片的数据量达到厂家预估总容量,且eMMC芯片剩余可用容量大于等于单次检测存入数据量,则该eMMC芯片寿命符合要求,否则认为该eMMC芯片寿命不符合要求;结束测试;

若已写入eMMC芯片数据量未达到厂家预估总容量,返回步骤S2。

3.如权利要求1所述的用于eMMC存储参数测试的方法,其特征在于,在所述步骤S3中,判断eMMC芯片是否写满方法为:

若eMMC芯片剩余可用容量小于写入文件的数据量,则认为eMMC芯片已写满,若eMMC芯片剩余可用容量大于等于写入文件的数据量,认为eMMC芯片未写满。

4.如权利要求1或2所述的用于eMMC存储参数测试的方法,其特征在于,在所述步骤S3中,还包括eMMC芯片极限寿命评估步骤,所述eMMC芯片极限寿命为:

eMMC芯片极限寿命=(已写入eMMC芯片的数据量/单次检测存入数据量)×设备存储周期t2;

所述设备存储周期t2为设备使用过程中检测周期。

5.如权利要求1或2所述的用于eMMC存储参数测试的方法,其特征在于,所述指令还包括读取指令,在下位机执行所述读取指令内容时,读取eMMC芯片中的已写入的数据,计算读取速度,并上传eMMC芯片中的已写入的数据和读取速度至上位机;

上位机将eMMC芯片中的已写入的数据与写入文件进行对比,若一致,则eMMC芯片中的已写入的数据正确,若不一致,则eMMC芯片中的已写入的数据错误。

6.如权利要求1或2所述的用于eMMC存储参数测试的方法,其特征在于,所述写入文件的数据量大于单次检测存入数据量。

7.如权利要求2所述的用于eMMC存储参数测试的方法,其特征在于,所述写入文件的数据量小于或等于单次检测存入数据量。

8.如权利要求1或2所述的用于eMMC存储参数测试的方法,其特征在于,在所述步骤S2中,以时间间隔t1在eMMC芯片中写入文件,所述时间间隔t1通过上位机设定。

9.一种基于权利要求1-8中任一所述方法进行eMMC存储参数测试的系统,其特征在于,包括上位机和下位机;

所述上位机包括上位机处理器、显示器、输入装置以及上位机网络接口和/或上位机USB接口;

所述显示器输入端与上位机处理器显示输出端连接,输入装置输出端与上位机处理器控制输入端连接,上位机网络接口第一端与上位机处理器网络输入端连接,上位机USB接口第一端与上位机处理器USB输入端连接;

和/或所述下位机包括下位机处理器、eMMC芯片模块、以及网络接口模块和/或USB接口模块;

所述网络接口模块包括下位机网络接口,下位机网络接口第一端与下位机处理器网络输入端连接,下位机网络接口第二端与上位机网络接口第二端连接;

所述USB接口模块包括下位机USB接口,下位机USB接口第一端与下位机处理器USB输入端连接,下位机USB接口第二端与上位机USB接口第二端;

所述eMMC芯片模块包括eMMC芯片,以及用于装载eMMC芯片的底座;所述底座上具有与eMMC芯片各管脚接触连接的触点,底座各管脚分别与下位机处理器的eMMC芯片测试端连接;

所述上位机和下位机按照权利要求1-8中任一所述方法进行eMMC芯片存储参数测试。

10.如权利要求9所述的eMMC存储参数测试系统,其特征在于,所述下位机还包括电源模块或按键控制模块,

所述电源模块输出端与下位机处理器电源输入端连接;所述按键控制模块输出端与下位机处理器按键输入端连接。

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