技术总结
本发明公开了一种用于eMMC存储参数测试的方法及系统，该方法包括：S1，上位机发送写入文件和指令至下位机；S2，下位机执行写入指令；S3，上位机进行eMMC芯片寿命性能判断，在eMMC芯片写满时，若eMMC芯片剩余可用容量达到单次检测存入数据量，且已写入eMMC芯片数据量大于等于厂家预估总容量，则该eMMC芯片寿命符合要求，否则认为该eMMC芯片寿命不符合要求。对于将eMMC芯片运用在实时大量数据存储记录仪之类产品的时候，设备厂家可以通过该方法及系统快速、便捷地提前对eMMC芯片的性能和使用寿命进行检测评估，可作为产品可靠性测试的工具，用以保证产品使用的可靠性和长久的使用寿命，可评估不同容量eMMC芯片。
技术研发人员：冉亮;田维明;张志良;彭林;刘江
受保护的技术使用者：重庆金山医疗器械有限公司
技术研发日：2018.01.10
技术公布日：2018.07.10